wykład 7 NSK.pdf
(
859 KB
)
Pobierz
Seria: Informatyka
Niezawodność systemów komputerowych
Wykład 7
Charakterystyki niezawodności systemów
komputerowych
dr hab. inż. Tadeusz Nowicki, prof. nadzw. WAT
e-mail: tadeusz.nowicki@wat.edu.pl,
tel. 6-839429, kons. wtorek 19.00, pok. 263
Charakterystyki niezawodnościowe
elementów elektronicznych
Pojedynczy element
elektroniczny wchodzący w skład
komputera przybliża się wykładniczym rozkładem czasu do
uszkodzenia. Przyjmuje się założenie iż każdy taki element jest
nieodnawialny.
Niech
T
e
oznacza czas do uszkodzenia pojedynczego elementu. Wówczas
prawdopodobieństwo tego, że czas ten będzie krótszy od
zadanej wartości
t
, dane jest wzorem:
P {
T
e
t }
�½
F
e
( t ) , t
0
gdzie
e
jest intensywnością uszkodzenia się elementu.
Charakterystyki niezawodnościowe
elementów elektronicznych
Intensywność uszkadzania się elementów rozumiana jest nie jako
liczba uszkodzeń liczna na jednostkę czasu, lecz w inny sposób.
Jeśli dystrybuanta czasu do uszkodzenia się elementu jest funkcją
F
e
(t)
�½
P
T
e
t
�½
, t
0
To funkcję
rzeczywista
niezawodności
tego
elementu
określa
funkcja
Natomiast gęstość zmiennej losowej oznaczającej czas do
uszkodzenia się elementu jest funkcją
R
e
(t)
�½
P
T
e
t
�½
, t
0
dF
e
(t)
f
e
(t)
�½
,t
0
dt
Charakterystyki niezawodnościowe
elementów elektronicznych
Teraz można użyć określenia intensywność uszkodzeń
zmiennej losowej oznaczającej czas do uszkodzenia się
elementu
f
e
(t)
e
(t)
�½
,t
0
R
e
(
t
)
Intensywność uszkodzeń elementu jest więc funkcją
rzeczywistą określającą jedynie „żywotność” elementu,
będącą warunkową gęstością zmiennej losowej oznaczającej
czas do jego uszkodzenia się [Korzan]
Zatem: intensywność uszkodzeń elementu nie zmienia się,
jest jego własnością określoną funkcją.
Charakterystyki niezawodnościowe
elementów elektronicznych
Można pokazać, że pojedynczy element elektroniczny
charakteryzuje się czasem do uszkodzenia o wykładniczym
rozkładzie prawdopodobieństwa
t
,
t
0
P {
T
e
t
}
�½
F
e
(
t
)
�½
1
e
e
Wykładniczy charakter rozkładu czasu do uszkodzenia
posiadają również bardziej złożone elementy elektroniczne:
układy scalone, monitory ekranowe, silniki elektryczne,
pamięci dyskowe, napędy dyskowe, pamięci elektroniczne,
zasilacze, transformatory, itp.
Plik z chomika:
Bayaniss
Inne pliki z tego folderu:
NSK - cwiczenia nr 7.pdf
(135 KB)
Literatura.docx
(10 KB)
NSK - cwiczenia nr 1.pdf
(169 KB)
NSK - cwiczenia nr 2.pdf
(143 KB)
NSK - cwiczenia nr 3.pdf
(151 KB)
Inne foldery tego chomika:
Zgłoś jeśli
naruszono regulamin